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探傷檢測(cè)又稱探傷，是指檢測(cè)金屬材料或構(gòu)件內(nèi)部的裂紋或缺陷。探傷試驗(yàn)常用的探傷方法有：X射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷（著色探傷）、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷等方法。

磁粉探傷： 其基本原理是：工件磁化的時(shí)候，如果工件表面存在缺陷，缺陷處磁阻增大，形成局部磁場(chǎng)，磁粉會(huì)發(fā)生漏磁。會(huì)在這里顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。磁粉探傷是一種用于檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷的檢測(cè)方法。
超聲波探傷： 超聲波在介質(zhì)中傳播的波型有很多種，檢測(cè)中常用的有縱波、橫波、表面波和板波。利用縱波檢測(cè)金屬錠、坯料、中厚板、大型鍛件、形狀比較簡(jiǎn)單的夾雜物、裂紋、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷；用橫波檢測(cè)管材的周向和軸向裂紋、劃痕、焊縫氣孔、夾渣、裂紋、未焊透等缺陷；利用表面波檢測(cè)形狀簡(jiǎn)單的工件表面缺陷；使用板波檢測(cè)薄板缺陷中的缺陷。 X射線探傷： 電離當(dāng)X射線或其他射線（如射線）被物質(zhì)吸收后，構(gòu)成該物質(zhì)的分子可分解成正離子和負(fù)離子，這稱為電離。離子的數(shù)量與物質(zhì)吸收的X 射線量成正比。電離是由空氣或其他物質(zhì)產(chǎn)生的，用儀表測(cè)量電離度可以計(jì)算出X射線的量。檢測(cè)設(shè)備就是通過(guò)這個(gè)來(lái)實(shí)現(xiàn)零件的探傷。 X 射線還具有其他功能，例如光敏性和熒光性。